Fischer XAN 220菲希爾x射線測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220/222,X射線熒光測量儀，用于快速、無損分析黃金和銀合金：
X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量，菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線熒光測量儀器，用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯（17）到鈾（92）范圍內(nèi)可同時測定多達24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。
FISCHERSCOPE XAN220產(chǎn)品特點：
•    菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設(shè)計；
•    配備固定的準(zhǔn)直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析
•    配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，適用于更復(fù)雜的多元素分析
•    由下至上的測量方向，可以簡便地實現(xiàn)樣品定位

德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。
德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀產(chǎn)品簡介：
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價比的入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。
它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯(17)到鈾(92)，多時可同時測定24種元素。
正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，本款儀器有著初設(shè)的準(zhǔn)確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時間和精力。
*的Si-PIN的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。