FISCHERSCOPEX-RAY XDV-µ菲希爾x射線測厚儀

FISCHERSCOPEX-RAY XDV-µ菲希爾x射線測厚儀

FISCHERSCOPE XDV-µ的特點(diǎn)
同時測量從Al（13）到U（92）的多達(dá)24個元素，XDV-μLD:S（16）-U（92）
菲希爾x射線測厚儀*的多毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng)，可將X射線束聚焦到10μm（FWHM），用于微結(jié)構(gòu)測量
菲希爾x射線測厚儀可編程XY工作臺和模式識別，用于多個樣品的自動測量
擴(kuò)展樣品臺方便樣品的定位
向?qū)叫?zhǔn)過程
穩(wěn)健設(shè)計適合長期使用
光學(xué)顯微鏡（放大270倍），顯示圖像和激光定位點(diǎn)，可顯示精確的測量點(diǎn)
無需校準(zhǔn)即可進(jìn)行測量的基本參數(shù)分析
符合IPC-4552A、4553A、4554和4556，ASTM B568，ISO 3497標(biāo)準(zhǔn)
Fischer的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)片可追溯到基本單位
菲希爾XDV-µ應(yīng)用
菲希爾XDV-µ微米和納米范圍內(nèi)的Au/Pd/Ni/CuFe和Sn/Ni鍍層
組裝和未組裝電路板
納米范圍內(nèi)的基底金屬化層（bump metallization，UBM）的測試
測量輕元素，例如 測量金和鈀下的磷含量（在ENEPIG和ENIG中）
銅柱上的無鉛焊料蓋
測試C4和較小焊點(diǎn)的元素組成，以及半導(dǎo)體行業(yè)中的小接觸面