Couloscope CMS2

Couloscope CMS2

德國(guó)Fischer菲希爾電解法測(cè)厚儀是利用涂層和基體對(duì)應(yīng)的電解液，溶解在一定電流下的硬度和時(shí)間來(lái)測(cè)量膜厚的測(cè)量方法(但采用電化學(xué)中的庫(kù)侖法測(cè)量膜厚)。菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀是利用法拉第原理設(shè)計(jì)的，其工藝類似于電鍍，只是電化學(xué)反應(yīng)方向相反，是電退鍍。

菲希爾電解法測(cè)厚儀COULOSCOPE CMS2和菲希爾CMS2 STEP用于測(cè)量ABS、塑料、黑色或有色金屬基材上多層鍍層的厚度，采用陽(yáng)極溶解/反向電解工藝，菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀通過(guò)蝕刻效應(yīng)(破壞性試驗(yàn)方法)。菲希爾測(cè)厚儀它是測(cè)量金屬或非金屬基材上幾乎所有金屬涂層(尤其是無(wú)損涂層)理想厚度的理想儀器。

如今，fischer測(cè)厚儀已成功應(yīng)用于汽車、汽車零部件、電鍍、粉末涂裝、電子、電氣、鍍鋅、研發(fā)等領(lǐng)域。。Helmut-Fischer成立于1953年，是為精密材料分析、材料測(cè)試、涂層厚度、顯微硬度、電導(dǎo)率和鐵氧體含量測(cè)量、陽(yáng)極密封和孔隙率測(cè)試提供儀器和解決方案的創(chuàng)新?；谪S富的經(jīng)驗(yàn)，F(xiàn)ischier可以為您的測(cè)量應(yīng)用提供理想的解決方案。COULOSCOPE CMS2fischer測(cè)厚儀可以測(cè)量金屬或非金屬基底上幾乎所有金屬涂層的厚度。

菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀用于測(cè)量涂層厚度

COULOSCOPE CMS2和COULOSCOPE CMS2 STEP菲希爾測(cè)厚儀根據(jù)庫(kù)侖分析法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差。

庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用的電化學(xué)分析方法，可以確定金屬涂層的厚度。這種方法主要用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)測(cè)印刷電路板中殘留純錫的厚度。

用庫(kù)侖儀COULOSCOPE CMS2和支架V18測(cè)量印刷電路板上剩余純錫的厚度。

菲希爾庫(kù)倫法測(cè)厚儀可以測(cè)量幾乎所有基材上的金屬涂層厚度，包括多層涂層結(jié)構(gòu)；其工作原理基于陽(yáng)極溶解庫(kù)侖分析法(ISO 2177標(biāo)準(zhǔn))。簡(jiǎn)單的操作和菜單指令使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢測(cè)的理想解決方案。該設(shè)備配備了近100種針對(duì)不同涂層結(jié)構(gòu)(例如，鐵上鍍鋅和黃銅上鍍鎳)和各種電解速度(例如，1、2、5和10微米/分鐘)的保留應(yīng)用。這些應(yīng)用適用于多涂層系統(tǒng)。

COULOSCOPE CMS2 STEP的特點(diǎn)是階躍測(cè)試功能(同時(shí)測(cè)量厚度和電位差)。用于多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控，用于涂層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化步驟測(cè)試(根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022)。涂層的厚度通過(guò)庫(kù)侖法獲得，而電勢(shì)差通過(guò)涂有AgCl的銀電極獲得。