FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500

fischerscope xan500菲希爾x射線測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準儀器所需的時間和精力。

菲希爾x射線測厚儀fischerscope XAN500采用*的硅漂移探測器能夠達到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠FISCHER的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

使用fischerscope XAN500型手持式儀器可以對大型工件以及臺式儀器難以測量的位置進行便捷快速的測量。設(shè)計結(jié)構(gòu)的優(yōu)化使得儀器可以唄安全第放置到工件上，無論是鍍層測厚或者材料分析，都可以保證其測量結(jié)果的再現(xiàn)性。同時，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺式測量設(shè)備，以便檢測小型樣品。

菲希爾x射線測厚儀特點

菲希爾x射線測厚儀通用手持式X射線熒光分析儀，即使材料組合困難復(fù)雜的情況下，也可以進行精確的鍍層厚度測量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 標準

重量1.9 kg

一次電池充電可持續(xù)運行6個小時

測量點：3毫米?

高分辨率硅漂移檢測器

用于戶外的IP54等級

用作臺式設(shè)備的可選測量箱；

使用完整版WinFTM®軟件進行數(shù)據(jù)統(tǒng)計