菲希爾X射線測厚儀Fischer代理

菲希爾X射線測厚儀Fischer代理

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。菲希爾X射線測厚儀它適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，菲希爾X射線測厚儀同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

Fischerscope XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器

比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。

Fischer X射線測厚儀由于采用了FISCHER*基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。

無錫駿展儀器有限責任公司起源于美國,英國,德國和其他地區(qū)的合作伙伴,與全系列的產(chǎn)品資源和服務,光學儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、測量工具測量工具和其他類型的測試設(shè)備,努力為客戶解決快速分析的測量技術(shù)挑戰(zhàn),聯(lián)合提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動企業(yè)實現(xiàn)既定目標。

菲希爾測厚儀

通用規(guī)格

設(shè)計用途能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀（EDXPF），用于測定鍍層和溶液分析。

元素范圍從元素氯（17）到鈾（92）

配有可選的WinFTM®BASIC軟件時，最多可同時測定24種元素

設(shè)計理念臺式儀器，測量門向上開啟

測量方向由上往下

X射線源

X射線管帶鈹窗口的鎢管

高壓三檔：30KV，40KV，50KV

孔徑（準直器）φ0.3mm　可選：φ0.1mm；φ0.2mm；長方形0.3mm x 0.05mm

測量點尺寸取決于測量距離及使用的準直器大小

實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致

小的測量點大小約φ0.2mm

X射線探測

X射線接收器比例接收器

測量距離0~80mm，使用保護的DCM測量距離補償法

樣品定位

視頻系統(tǒng)高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置

手動聚焦，對被測位置進行監(jiān)控

十字線（帶有經(jīng)過校準的刻度和測量點尺寸）

可調(diào)節(jié)亮度的LED照明，激光光點用于定位樣品

放大倍數(shù)40x~160x

電器參數(shù)

電源要求200V，50Hz

功率大120W（不包括計算機）

保護等級IP40

尺寸規(guī)格

外部尺寸寬x深x高（mm）：570x760x650

內(nèi)部測量室尺寸寬x深x高（mm）：460x495x（參考“樣品大高度"部分的說明）

重量107KG

環(huán)境要求

使用時溫度10℃~40℃

存儲或運輸時溫度0℃~50℃

空氣相對濕度≤95%　無結(jié)露

工作臺

設(shè)計手動X/Y平臺

X/Y平臺大移動范圍92x150mm

可用樣品放置區(qū)域420x450mm

Z軸馬達驅(qū)動

Z軸移動范圍140mm

樣品大重量20KG

樣品大高度140mm

激光（1級）定位點有

計算單元

計算機帶擴展卡的Windows®計算機系統(tǒng)

軟件標準：WinFTM®V.6 LIGHT

可選：WinFTM®V.6 BASIC，PDM，SUPER

執(zhí)行標準

CE合格標準EN 61010

型式許可作為受*保護的儀器

型式許可*符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)的規(guī)定